研華「2014量嵌入式測(cè)試與測(cè)技術(shù)巡回研討會(huì)」圓滿落幕
日期:
2014-07-03 16:07
2014年6月24日研華以敏捷開(kāi)發(fā)和智能監(jiān)診技術(shù)提升生產(chǎn)測(cè)試效能--嵌入式測(cè)試測(cè)量軟件開(kāi)發(fā)與智能監(jiān)診趨勢(shì)論壇首場(chǎng)北京站成功舉辦。本次研討會(huì)以測(cè)試測(cè)量技術(shù)在智能監(jiān)診及敏捷開(kāi)發(fā)等領(lǐng)域的應(yīng)用為主要內(nèi)容，探討了。NET Framework的最新發(fā)展趨勢(shì)及商機(jī)。與此同時(shí)，介紹了研華為測(cè)試測(cè)量行業(yè)提供的整體解決方案和軟硬件產(chǎn)品。研討會(huì)現(xiàn)場(chǎng)氣氛熱烈，觀眾在現(xiàn)場(chǎng)操作了研華最新量測(cè)產(chǎn)品，互動(dòng)積極，深切地感受到嵌入式測(cè)試測(cè)量技術(shù)的創(chuàng)新應(yīng)用與整體解決方案。
研華2014嵌入式測(cè)試與量測(cè)技術(shù)巡回研討會(huì)現(xiàn)場(chǎng)圖片
研討會(huì)中，研
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